Algoritmul de detecție caracteristică SIFT a fost inventat și publicat de David Lowe de la Universitatea din British Columbia.
Algoritmul asigură capacitatea de a identifica punctele de caracteristici cheie din
imagini arbitrare. Se suplimentare extracte de informare foarte distinct pentru fiecare astfel de punct și permite caracterizarea punctul invariant la un număr de modificări la imaginea. Este invariant de contrast / luminozitate modificări, rotației, scalarea și parțial invariant la alte tipuri de transformări. Algoritmul poate fi folosit în mod flexibil pentru a crea date de intrare pentru potrivire imagine, identificarea obiectelor și a altor algoritmi legate de viziune de calculator.
Utilizarea algoritmului SIFT pentru crearea automată panoramică a fost dezvoltat de Matthew Brown și David Lowe în lucrarea lor "Recunoscând Panorame".
Ce este nou în această versiune:
Comentariile nu a fost găsit